SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法Ｘ射线荧光光谱法

作者:标准资料网时间:2024-05-14 21:13:02 浏览:9604 来源:标准资料网

基本信息

标准名称：	银和银合金镀覆层厚度测量方法Ｘ射线荧光光谱法
英文名称：	Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry
中标分类：	医药、卫生、劳动保护 >> 医药、卫生、劳动保护综合 >> 技术管理
发布部门：	中国电子工业总公司
发布日期：	1992-11-19
实施日期：	1993-05-01
首发日期：	1900-01-01
作废日期：	1900-01-01
提出单位：	中国电子工业总公司科技质量局
归口单位：	中国电子技术标准化研究所
起草单位：	中国华晶电子集团公司等单位
起草人：	全庆霄、赵长春、顺兴生等
出版社：	电子工业出版社
出版日期：	1993-04-01
页数：	9页

适用范围

本标准规定了用x射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是’一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量，也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。

前言

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所属分类：医药卫生劳动保护医药卫生劳动保护综合技术管理

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SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法 Ｘ射线荧光光谱法